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奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩(wěn)定等優(yōu)點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù),可精確標定薄膜標樣的負載量。 《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣。