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XRF熒光光譜儀元素標準膜

XRF熒光光譜儀元素標準膜

簡要描述:奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩定等優點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術,可精確標定薄膜標樣的負載量。
《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣。

產品型號: B36

所屬分類:實驗室耗材

更新時間:2024-10-24

詳細說明:

奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩定等優點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICPXRF等檢測技術,可精確標定薄膜標樣的負載量。

HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。

XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)VL(3-5μg/cm2)L(15-25μg/cm2)R(40-60μg/cm2)H(80-120μg/cm2)五個負載量系列,其他負載量的產品可根據客戶實際需求定制。

可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下(可在表格內打√選擇樣品):

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備,用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響;采用*標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品,參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品,可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。

XRF薄膜標準樣品的安裝形式:

  1. 安裝環尺寸(厚度為1.5mm的亞克力玻璃)

代碼

外徑(mm)

內徑(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

      *36號尺寸。

方形:

      50x50mm方形尺寸,內置?32mm的圓環,代碼50

  1. 支撐膜材料

代碼

支撐膜材料

備注

N

Nuclepore® polycarbonate

氣溶膠多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)

  • M6.3型材料。

B

A

鍍膜方式:

代碼

鍍膜位置排列

A

安裝環-元素膜-支撐膜

B

元素膜-支撐膜-安裝環





 

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